Neue Technologie kann Transistoren einer CPU in Aktion sichtbar machen – Terahertz-Strahlung könnte dabei Daten abfangen, während ein Chip läuft

Forscher der Adelaide University haben eine Entdeckung gemacht, die die Art und Weise, wie wir Halbleiter testen, grundlegend verändern könnte.

Wie IEEE Spectrum berichtet, haben diese Forscher eine Methode zur Detektion Forscher der Adelaide University haben eine Entdeckung gemacht, die die Art und Weise, wie wir Halbleiter testen, grundlegend verändern könnte.

Wie IEEE Spectrum berichtet, haben diese Forscher eine Methode zur Detektion der Transistoraktivität eines Chips mittels Terahertz-Strahlung entdeckt. Der Prozess beinhaltet die Verwendung eines Laborwerkzeugs, das als Vektornetzwerkanalysator oder VNA bekannt ist, welcher ein Mikrowellensignal „mit bekannter Frequenz und Phase“ erzeugt.

Ein VNA-Frequenzverlängerer wandelt das Mikrowellensignal in eine Terahertz-Welle um, welche dann mittels einer Fokussierlinse auf einen Mikrochip gerichtet wird. Für den Test muss der Chip eingeschaltet und arbeiten.

Wenn die Transistoren im Inneren ein- und ausschalten, reflektiert das Terahertz-Signal diese Änderungen und kehrt zu einem Empfänger im VNA-Verlängerer zurück.

Anschließend wird das Signal „herunterkonvertiert“ auf Mikrowellen und mit dem ursprünglichen Signal verglichen, indem winzige Unterschiede in Amplitude und Phase mithilfe eines homodynen Quadraturempfängers detektiert werden.